000000910 001__ 910
000000910 005__ 20141118153511.0
000000910 04107 $$acze
000000910 046__ $$k2002-05-13
000000910 100__ $$aPavlíček, Pavel
000000910 24500 $$aPROFILOMETRIE POMOCÍ INTERFERENCE BÍLÉHO SVĚTLA
000000910 24630 $$n8.$$pEngineering Mechanics 2002
000000910 260__ $$bInstitute of Mechanics and Solids, FME, TU Brno
000000910 506__ $$arestricted
000000910 520__ $$2cze$$aAbstrakt: Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.
000000910 520__ $$2eng$$aAbstract: Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.
000000910 540__ $$aText je chráněný podle autorského zákona č. 121/2000 Sb.
000000910 7112_ $$aEngineering Mechanics 2002$$cSvratka (CZ)$$d2002-05-13 / 2002-05-16$$gEM2002
000000910 720__ $$aPavlíček, Pavel
000000910 8560_ $$ffischerc@itam.cas.cz
000000910 8564_ $$s280860$$uhttp://invenio.itam.cas.cz/record/910/files/Pavlicek.pdf$$y
             Original version of the author's contribution as presented on CD, .
            
000000910 962__ $$r451
000000910 980__ $$aPAPER