Pavlíček, Pavel

PROFILOMETRIE POMOCÍ INTERFERENCE BÍLÉHO SVĚTLA

Abstract cze:
Abstrakt: Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.

Abstract eng:
Abstract: Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.

Publisher:

Institute of Mechanics and Solids, FME, TU Brno

Conference Title:

Engineering Mechanics 2002

Conference Title:

Engineering Mechanics 2002

Conference Venue:

Svratka (CZ)

Conference Dates:

2002-05-13 / 2002-05-16

Rights:

Text je chráněný podle autorského zákona č. 121/2000 Sb.